Nanocalc 系列膜厚测量仪的工作原理和特点

　　 Nanocalc 系列膜厚测量仪的工作原理：

　　利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc-2000用一个宽光谱的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和消光系数k随膜厚的不同而变化，NanoCalc-2000根据这一特性来进行曲线拟合从而求得膜厚。在NanoCalc-2000中，不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。

　　Nanocalc系列膜厚测量仪的特点：

　　UV/VIS/NIR高分辨率的配置

　　测量准确度在1nm，精度在0.1nm

　　可测量4层薄膜的任意3层

　　薄膜测量zui小可至10nm，zui大可至400um

　　可测量zui小1nm厚的透明金属层

　　提供用于复杂外形材料测量的试验台及附件

　　对表面缺陷和光滑度不敏感

　　庞大的材质数据库，保证各种材料的测量