新闻中心您现在的位置:首页 > 新闻中心 > Nanocalc 系列膜厚测量仪的使用注意事项

Nanocalc 系列膜厚测量仪的使用注意事项

更新时间:2016-09-06   点击次数:1353次
Nanocalc 系列膜厚测量仪的使用注意事项
  测量注意事项:
  ⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
  ⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
  ⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
  ⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
  ⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
  ⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
  ⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
  ⒏Nanocalc 系列膜厚测量仪在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
北京征程创拓科技有限公司

北京征程创拓科技有限公司

地址:北京市海淀区上地信息产业基地辉煌国际东6号楼460

© 2024 版权所有:北京征程创拓科技有限公司  备案号:  总访问量:224510  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆